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Cassification
电子元件快速温变试验箱,循环测试设备该设备主要用于电子元件研发阶段的耐温性能验证,帮助工程师发现热设计缺陷;在生产环节可对元件进行批量循环老化测试,筛除早期失效品;质检阶段能通过模拟实际使用环境的温度循环,验证元件的可靠性等级。此外,还适用于科研机构研究电子元件的热失效机理,以及汽车电子、航空航天等对环境适应性要求严苛的领域。
联系电话:0769-81085056
电子元件快速温变试验箱,循环测试设备
一、产物详情
电子元件快速温变试验箱,循环测试设备
叁、技术参数
温度范围:-50℃~180℃(可定制更宽范围)
温变速率:升温 / 降温速率 5℃/min~30℃/min(可调)
温度均匀度:≤&辫濒耻蝉尘苍;1.5℃(空载状态)
循环次数:可设定 1~9999 次自动循环
温度波动度:≤&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃
工作室尺寸:标准型 600mm×600mm×600mm(可定制)
工作室:316L 不锈钢(耐高低温、抗腐蚀)
保温层:聚氨酯泡沫(导热系数≤0.025奥/尘?碍)
外壳:冷轧钢板(表面环氧树脂喷涂)
五、温度控制系统