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Cassification
芯片集成电路高低温快速温变试验箱专为满足芯片及集成电路在复杂温度环境下的性能测试需求而研发。可精准模拟 - 70℃至 150℃高低温环境,并实现 20℃/min 的温变速率,快速且稳定地完成高低温循环测试,有效检测芯片在温度剧变下的电气性能、可靠性和稳定性,为芯片研发、生产及质量管控提供可靠的数据支撑。
联系电话:0769-81085056
芯片集成电路高低温快速温变试验箱生产厂家91爱豆传媒国产成人网站拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产物的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产物。
一、产物概述
芯片集成电路高低温快速温变试验箱
二、基本结构
四、技术参数
温度范围:-70℃ ~ 150℃
温度波动度:&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃
温度均匀度:≤2℃
温变速率:线性升温速率20℃/尘颈苍,线性降温速率15℃/尘颈苍
时间设定范围:0 ~ 9999 小时
电源要求:AC380V±10% 50Hz,配备过载、漏电、超温等多重保护功能
精准控温:温度控制精度高,能精准模拟芯片在不同应用场景下的温度环境,满足严格的测试标准。
快速温变:高速温变速率大幅缩短测试周期,提高测试效率,加速芯片研发和生产进程。
多样测试模式:支持程式编辑功能,可自由设定多段温度、时间参数,模拟复杂的温度变化曲线,满足不同芯片的测试需求。
智能监控与数据管理:具备远程监控功能,可通过网络实时查看试验箱运行状态;支持测试数据自动记录、存储和导出,方便后期分析和追溯。
安全可靠:多重安全防护机制,如超温报警、压缩机过载保护、漏电保护等,确保设备和测试芯片的安全。