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两槽式冷热冲击试验箱 支持定制 可程式 电子芯片lC、半导体材料陶磁及纤维材料之物理学性转变，检测其原材料对高低温试验的不断低抗拉力及商品于热涨冷缩商品的化学反应或物理伤害，可确定商品的质量，从高精密lC到重机械的部件。

可程式 快速冷热冲击试验箱 两箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产物置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,测试产物为静态。

电子元器件冷热冲击试验箱 可靠性测试设备专为电子行业设计，用于模拟电子元器件在温度环境下的快速冷热交替工况，精准检测其可靠性与稳定性。设备采用三厢式结构设计，包含高温箱、低温箱和测试箱，通过气动风门切换，实现样品在高低温环境间的快速转移。外壳选用高强度冷轧钢板，经表面喷塑处理，具备良好的防锈、防腐蚀性能；内部工作室采用 SUS304 不锈钢材质，耐高低温、无污染，确保测试环境纯净。